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實至名歸!日聯(lián)科技斬獲2026 ICA金控獎

6月26日,2026工業(yè)控制產(chǎn)業(yè)發(fā)展大會暨ICA金控獎頒獎盛典在蘇州舉辦。

日聯(lián)科技亞微米級智檢裝備AX9600,在半導(dǎo)體先進(jìn)封裝領(lǐng)域出色的檢測性能、成熟的工業(yè)控制集成應(yīng)用效果,榮獲”年度3C半導(dǎo)體行業(yè)工業(yè)控制應(yīng)用標(biāo)桿獎”,標(biāo)志著日聯(lián)開管智檢裝備在半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域的技術(shù)實力,再次獲得行業(yè)權(quán)威認(rèn)可。
本次評選由工控領(lǐng)域多家權(quán)威機(jī)構(gòu)聯(lián)合主辦,從技術(shù)創(chuàng)新、市場影響力、應(yīng)用落地、發(fā)展?jié)摿?、產(chǎn)業(yè)貢獻(xiàn)五大維度,對參選項目進(jìn)行全方位綜合評定,最終選出行業(yè)標(biāo)桿成果。
亞微米級半導(dǎo)體智檢裝備AX9600
重構(gòu)國產(chǎn)半導(dǎo)體“零缺陷”質(zhì)控新基準(zhǔn)




采用日聯(lián)自研160kV開放式微聚焦X射線源,以0.8μm級缺陷全捕捉、納米級成像及零缺陷質(zhì)控,輕松完成半導(dǎo)體產(chǎn)品爬錫高度、連錫、虛焊、漏焊、短路等封裝缺陷和空洞、裂紋等內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷檢測。
了解更多日聯(lián)科技X-ray檢測裝備信息可以撥打全國服務(wù)熱線:400-880-1456 或訪問日聯(lián)科技官網(wǎng):t1442.cn
